Machul, Olaf: Nichtlineare Approximationsmethoden zur Reduzierung nichtidealer Sensoreigenschaften in integrierten CMOS-Sensorsystemen

 

Inhalt

Verwendete Formelzeichen und Abkürzungen
1. Einleitung 1
2. Verhalten mikromechanischer Drucksensoren 4
2.1 Einführende Übersicht 4
2.2 Allgemeine Verhaltensbeschreibung von Sensoren 5
2.3 Passive Drucksensoren 7
2.3.1 Piezoresistive Drucksensoren in Oberflächenmikromechanik 7
2.3.2 Kapazitive Drucksensoren in Substrat- und Oberflächenmikromechanik 12
2.4 Aktive Drucksensoren 19
3. Nichtlineare Approximationsverfahren zur Reduzierung nichtidealer Sensoreigenschaften 32
3.1 Einführung: Häufige Problemstellungen in der heutigen  Sensorsignalverarbeitung 32
3.2 Geeignete Approximationsverfahren aus der numerischen Mathematik 37
3.2.1 Regressionsverfahren 38
3.2.1.1 Fehlerkriterien für Regressionsverfahren 38
3.2.1.2 Diskrete Approximation nach der Methode kleinster  Fehlerquadrate 39
3.2.2 Interpolationsverfahren 40
3.2.2.1 Klassische Polynominterpolation 41
3.2.2.2 Abschätzungen des Interpolationsfehlers  41
3.2.2.3 Stückweise Interpolation mit Polynomen - Spline-Interpolation 43
3.3 Hardwarekonzepte für Approximationsverfahren 51
3.3.1 Anforderungen an die Hardwarekonzept 51
3.3.2 Herkömmliche Hardwarekonzepte für Implementierung  geeigneter Approximationsverfahren 52
3.3.3 Modifiziertes Tabellenverfahren unter Verwendung  von **-Modulatoren 58
3.3.4 Gegenüberstellung der vorgestellten Approximationsverfahren 75
4. Kennlinienbasierte Sensorsysteme zur Reduzierung nichtidealer Sensoreigenschaften 78
4.1 Einleitung 78
4.2 Konzept eines kennlinienbasierten Sensorsystems für die nichtlineare    Kompensation von Querempfindlichkeiten 79
4.3 Systemkomponenten 81
4.3.1 Sensor zur Aufnahme der Störgröße 81
4.3.2 ??-Modulatoren M.ter Ordnung 82
4.3.3 Adressgenerierung für Kennlinien-Speicher 89
4.3.4 Nichtflüchtige Speicherung in kombinierten RAM/PROM-Zellen 92
4.3.5 Digital programmierbare SC-Verstärkerkette 96
4.3.6 Interpolationsfilter mit verteilten RC-Elementen 99
4.3.7 Reduzierung der Chipfläche bei Systemen mit hohen Genauigkeitsanforderungen 104
4.4 Realisierungsbeispiele 108
4.5 Erweiterungsfähigkeit des vorliegenden Sensor-Konzepts 117
5.  Kalibration kennlinienbasierter Sensorsysteme 121
5.1 Automatisierte Kalibration 121
5.2 Systemkonzept eines automatisierten Kalibrationsmeßplatzes für Druckmeßumformer 121
5.3 Ablauf der Kalibrationsprozedur 124
5.3.1 Konfiguration der Kalibrierparameter 124
5.3.2 Kurzübersicht über kompletten Kalibrationszyklus 125
5.3.3 Nullpunkts- und Endwertabgleich 126
5.3.4 Korrektur temperaturabhängiger Drifteffekte 127
5.3.5 Abschließende Aktionen am Ende der Kalibration 134
5.4 Vorstellung von Kalibrationsergebnissen 135
6. Zusammenfassung und Ausblick 137
Anhang 141
Anhang A   Modifizierte MOS1 Level1-Modellgleichungen 141
Anhang B   Konvergenzbetrachtungen unterschiedlicher    Interpolationsverfahren 145
Anhang C   Erläuterung zum **-Modulator 150
Anhang D  Design einstufiger Operationsverstärker 156
Anhang E   Zweistufige Operationsverstärker und ihre    Kompensationsmethoden 159
Anhang F   Übertragungsfunktion eines SC-Integrators mit    korrelierten Doppelabtasten und kapazitiven Rücksetze 165
Anhang G Offsetkompensierter SC-Komparator 169
Anhang H   Übertragungsfunktion eines SC-Verstärkers mit    korrelierten Doppelabtasten und kapazitiven Rücksetzen 173
Literaturverzeichnis 177