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Verwendete Formelzeichen und Abkürzungen |
|
1. |
Einleitung |
1 |
2. |
Verhalten mikromechanischer Drucksensoren |
4 |
2.1 |
Einführende Übersicht |
4 |
2.2 |
Allgemeine Verhaltensbeschreibung von Sensoren |
5 |
2.3 |
Passive Drucksensoren |
7 |
2.3.1 |
Piezoresistive Drucksensoren in Oberflächenmikromechanik |
7 |
2.3.2 |
Kapazitive Drucksensoren in Substrat- und Oberflächenmikromechanik |
12 |
2.4 |
Aktive Drucksensoren |
19 |
3. |
Nichtlineare Approximationsverfahren zur Reduzierung
nichtidealer Sensoreigenschaften |
32 |
3.1 |
Einführung: Häufige Problemstellungen in der heutigen
Sensorsignalverarbeitung |
32 |
3.2 |
Geeignete Approximationsverfahren aus der numerischen Mathematik |
37 |
3.2.1 |
Regressionsverfahren |
38 |
3.2.1.1 |
Fehlerkriterien für Regressionsverfahren |
38 |
3.2.1.2 |
Diskrete Approximation nach der Methode kleinster Fehlerquadrate |
39 |
3.2.2 |
Interpolationsverfahren |
40 |
3.2.2.1 |
Klassische Polynominterpolation |
41 |
3.2.2.2 |
Abschätzungen des Interpolationsfehlers |
41 |
3.2.2.3 |
Stückweise Interpolation mit Polynomen - Spline-Interpolation |
43 |
3.3 |
Hardwarekonzepte für Approximationsverfahren |
51 |
3.3.1 |
Anforderungen an die Hardwarekonzept |
51 |
3.3.2 |
Herkömmliche Hardwarekonzepte für Implementierung geeigneter
Approximationsverfahren |
52 |
3.3.3 |
Modifiziertes Tabellenverfahren unter Verwendung von **-Modulatoren |
58 |
3.3.4 |
Gegenüberstellung der vorgestellten Approximationsverfahren |
75 |
4. |
Kennlinienbasierte Sensorsysteme zur Reduzierung
nichtidealer Sensoreigenschaften |
78 |
4.1 |
Einleitung |
78 |
4.2 |
Konzept eines kennlinienbasierten Sensorsystems für die nichtlineare
Kompensation von Querempfindlichkeiten |
79 |
4.3 |
Systemkomponenten |
81 |
4.3.1 |
Sensor zur Aufnahme der Störgröße |
81 |
4.3.2 |
??-Modulatoren M.ter Ordnung |
82 |
4.3.3 |
Adressgenerierung für Kennlinien-Speicher |
89 |
4.3.4 |
Nichtflüchtige Speicherung in kombinierten RAM/PROM-Zellen |
92 |
4.3.5 |
Digital programmierbare SC-Verstärkerkette |
96 |
4.3.6 |
Interpolationsfilter mit verteilten RC-Elementen |
99 |
4.3.7 |
Reduzierung der Chipfläche bei Systemen mit hohen Genauigkeitsanforderungen |
104 |
4.4 |
Realisierungsbeispiele |
108 |
4.5 |
Erweiterungsfähigkeit des vorliegenden Sensor-Konzepts |
117 |
5. |
Kalibration kennlinienbasierter Sensorsysteme |
121 |
5.1 |
Automatisierte Kalibration |
121 |
5.2 |
Systemkonzept eines automatisierten Kalibrationsmeßplatzes für
Druckmeßumformer |
121 |
5.3 |
Ablauf der Kalibrationsprozedur |
124 |
5.3.1 |
Konfiguration der Kalibrierparameter |
124 |
5.3.2 |
Kurzübersicht über kompletten Kalibrationszyklus |
125 |
5.3.3 |
Nullpunkts- und Endwertabgleich |
126 |
5.3.4 |
Korrektur temperaturabhängiger Drifteffekte |
127 |
5.3.5 |
Abschließende Aktionen am Ende der Kalibration |
134 |
5.4 |
Vorstellung von Kalibrationsergebnissen |
135 |
6. |
Zusammenfassung und Ausblick |
137 |
|
Anhang |
141 |
|
Anhang A Modifizierte MOS1 Level1-Modellgleichungen |
141 |
|
Anhang B Konvergenzbetrachtungen unterschiedlicher
Interpolationsverfahren |
145 |
|
Anhang C Erläuterung zum **-Modulator |
150 |
|
Anhang D Design einstufiger Operationsverstärker |
156 |
|
Anhang E Zweistufige Operationsverstärker und ihre
Kompensationsmethoden |
159 |
|
Anhang F Übertragungsfunktion eines SC-Integrators
mit korrelierten Doppelabtasten und kapazitiven Rücksetze |
165 |
|
Anhang G Offsetkompensierter SC-Komparator |
169 |
|
Anhang H Übertragungsfunktion eines SC-Verstärkers
mit korrelierten Doppelabtasten und kapazitiven Rücksetzen |
173 |
|
Literaturverzeichnis |
177 |