Peter Miskowiec : Schaltungsbezogene Modellierung der Ausbeute und des Ausfallrisikos mikroelektronischer Schaltkreise unter Berücksichtigung defektinduzierter Ausfallmechanismen
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Inhalt
1.
Einleitung
1
2
Grundlagen
6
3
Bestimmung der Defektgrößenverteilung aus experimentellen Daten
20
4
Produktspezifische Ausfallwahrscheinlichkeit und Ausbeute
47
5
Latente Defekte und Produktzuverlässigkeit
61
6
Der Ausbeute- und Zuverlässigkeitssimulator Calypso
93
7
Produktspezifische Anwendungsbeispiele
114
8
Zusammenfassung
170
Literaturverzeichnis