Inhaltsverzeichnis
Liste der verwendeten Abkürzungen,
Formelzeichen und Konstanten
1. | Einleitung | 1 |
1.1. | Zielsetzung der Arbeit | 4 |
1.2. | Struktur der Arbeit | 5
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2. | Methoden zur kontaktlosen Charkaterisierung integrierter Hoch- und Höchstfrequenz-Bauelemente und -Schaltungen - ein Überblick | 7 |
2.1. | Nichtoptische Meßverfahren | 8 |
2.2. | Optische Meßverfahren | 11
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3. | Physikalische Grundlagen optischer Meßverfahren | 17 |
3.1. | Der elektrooptische Pockels-Effekt | 17 |
3.2. | Der elektroabsorptive Franz-Keldysh-Effekt | 23 |
3.3. | Weitere optoelektronische Effekte im Vergleich | 25
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4. | Technische Grundlagen optischer Meßverfahren | 28 |
4.1. | Die direkte und die indirekte elektrooptische Meßtechnik | 28 |
4.2. | Die Sampling-Methode | 31 |
4.3. | Die Heterodyn-Meßtechnik | 36 |
4.4. | Das Prinzip der OBIC-Messungen | 40
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5. | Realisierung der Meßverfahren und Meßergebnisse | 43 |
5.1. | Der Meßaufbau für die elektrooptische Meßtechnik mit einem gepulsten Lasersystem | 44 |
5.1.1. | Meßaufbau | 44 |
5.1.2. | Meßergebnisse | 46 |
5.2. | Das heterodyn-elektrooptische Meßsystem | 48 |
5.2.1. | Meßaufbau | 48 |
5.2.2. | Photodetektoren für die Heterodyn-Meßtechnik | 59 |
5.2.3. | Meßergebnisse | 63 |
5.3. | Das Heterodyn-Meßsystem für OBIC-Messungen | 69 |
5.3.1. | Meßaufbau | 69 |
5.3.2. | Meßergebnisse | 71
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6. | Zusammenfassung und Ausblick | 79
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Literaturverzeichnis | 84 |