Behnke, Ulf Erich: Dynamische Spannungsmessungen an Submikrometerleitungen mittels der elektrischen Kraftmikroskopie

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Inhalt
Titel
Inhaltsverzeichnis
 
  Verzeichnis der verwendeten Formelzeichen und Konstanten III
  Abkürzungen IX
1. Einleitung 1
2. Elektrische Kraftmikroskopie 6
2.1. Prinzip der Rasterkraftmikroskopie 6
2.2. Prinzip der elektrischen Kraftmikroskopie (EKM) 14
2.3. Verfahren zur Messung statischer elektrischer Größen 20
2.4. Verfahren zur Messung dynamischer elektrischer Größen 28
2.5. Diskussion 47
3. Messaufbau, Teststrukturen und Messsonden 49
3.1. Das EKM-Testsystem 49
3.2. Die Teststrukturen 52
3.3. Verwendete Messsonden 55
4. Systematische Untersuchung der EKM-Leistungsparameter bezüglich
Messungen an Submikrometerleitungen
59
4.1. Die Leistungsparameter der EKM 60
4.2. Der Geometriefaktor der elektrischen Kraft 65
4.3. Zwei-dimensionale Modellbeschreibung des Spitzeneinflusses 70
4.4. Experimentelle Untersuchung der elektrischen Ortsauflösung und Spannungsauflösung 74
4.5. Untersuchungen zur Optimierung der Messspitzengeometrie 82
5. EKM an parallelen Submikrometerleitungen 99
5.1. Überlegungen zum Übersprechen im EKM-Messsignal 99
5.2. Entwicklung eines Berechnungsmodells 102
5.3. Frequenz- und phasengleiche harmonische Leitungsspannungen 107
5.4. Frequenzgleiche gegeneinander phasenverschobene harmonische Leitungsspannungen 111
5.5. Frequenzverschobene Leitungsspannungen 115
5.6. Diskussion 118
6. Messung digitaler Signale mittels heterodyner Mischung 128
6.1. Theoretische Überlegungen 128
6.2. Grundwellendetektion periodischer digitaler Bitfolgen 132
6.3. Mehrwellendetektion periodischer digitaler Bitfolgen 142
6.4. Übersprechen 150
6.5. Diskussion 151
7. Zusammenfassung und Ausblick 154
  Literaturverzeichnis 159
  Danksagung