Magnetic Oxide Heterostructures: EuO on Cubic Oxides and on Silicon
In the thesis at hand, we explore fundamental properties of ultrathin europium oxide (EuO) films. EuO is a model system of a localized 4f Heisenberg ferromagnet, in which the ferromagnetic coupling – provided a high crystalline quality – can be tuned by biaxial lattice strain. Moreover, the magnetic oxide EuO is perfectly suited as a spin-functional tunnel contact for silicon spintronics. However, up to now a challenging bulk and interface chemistry of EuO and Si has hampered a seamless integration into functional silicon heterostructures.
In order to investigate fundamental aspects of the magnetic and electronic structure of ultrathin EuO, in the first part of this thesis, we synthesize EuO thin films on conductive YSZ substrates from bulklike thicknesses down to one nanometer by oxide molecular beam epitaxy (MBE). The EuO thin films are of textbook-like single-crystalline quality, and show bulk-like magnetic properties. We control the stoichiometry of buried EuO thin films by hard X-ray photoemission spectroscopy (HAXPES); even a 1 nm ultrathin EuO film exhibits no valence change or interface shifts. Furthermore, we conduct an advanced magnetic characterization by the magnetic circular dichroism (MCD) of Eu core-levels in photoemission, this gives us insight into the intra-atomic exchange coupling of EuO thin films. The MCD reveals large asymmetries of up to 49% in the well-resolved Eu 4d photoemission multiplet. Thus, ultrathin EuO coherently grown on conductive YSZ allows us to explore fundamental magnetic and electronic properties of a 4f magnetic oxide.
Biaxial lateral strain applied to single-crystalline EuO is of fundamental interest, since it alters the electronic structure and magnetic coupling in a controlled way. We apply +4:2% tensile biaxial strain to EuO by epitaxial EuO/LaAlO3 (100) heterostructures. EuO seamlessly adapts the lateral lattice parameter of LaAlO3, while the perpendicular parameter of EuO is the unchanged EuO bulk value, thus the strained EuO thin film shows a Poisson ratio of EuO 0. The tensile strain reduces the Curie temperature significantly by 12.3 K. The MCD effect provides an advanced magnetic characterization: theMCDasymmetries in Eu core-level photoemission reveal a larger reduction due to the tensile strain than obtained from bulk-averaging SQUID measurements. Thus, the mechanism of tensile strain on intra-atomic exchange (indicated by MCD) is significantly different than on the spin order of the 4f 7 shell (indicated by SQUID). Experiments on EuO by MCD, thereby, reveal exciting perspectives for studying fundamental magnetic properties of EuO.
In the second part of this thesis, we explore how to integrate EuO directly with Si (001). We focus on interface engineering of structural and chemical properties of the EuO/Si (001) spin-functional heterointerface. In response to the extremely high chemical reactivity and pronounced surface kinetics of Eu, EuO, and Si during EuO synthesis at elevated temperatures, we initially conduct a thermodynamic analysis of the EuO/Si interface. In this way, we decide to investigate three in situ passivation techniques for the Si (001) surface, in order to prevent metallic and oxide contaminations at the EuO/Si interface – both being main antagonists for spin-selective tunneling. We conduct a comprehensive optimization study of the EuO/Si heterointerface by tuning the passivation parameters of the Si (001) surface and the growth parameters of EuO. Using HAXPES, we evaluate Si and Eu core-level spectra and determine the minimum of interface contaminants as dopt(SiOx) = 0.69 nm concomitant with dopt(EuSi2) = 0.20 nm, both of which are clearly in the subnanometer regime.
In conclusion, our ultrathin EuO/Si (001) heterostructures reveal a high chemical quality of the spinfunctional interface, combined with magnetic properties of the EuO layer akin to bulk. By selected interface passivation methods, we achieve a reduction of residual contaminations to clearly below a closed interface coverage. Thus, we could confirm a heteroepitaxial integration of EuO on Si (001), which is the experimental basis for possible band-matched coherent tunneling. This is the first time that a direct integration of high quality EuO on silicon was experimentally realized –without insertion of additional oxide buffer layers. Such optimized EuO/Si (001) heterointerfaces are paving the pathway for near-future spin-functional devices using EuO tunnel contacts.
In order to investigate fundamental aspects of the magnetic and electronic structure of ultrathin EuO, in the first part of this thesis, we synthesize EuO thin films on conductive YSZ substrates from bulklike thicknesses down to one nanometer by oxide molecular beam epitaxy (MBE). The EuO thin films are of textbook-like single-crystalline quality, and show bulk-like magnetic properties. We control the stoichiometry of buried EuO thin films by hard X-ray photoemission spectroscopy (HAXPES); even a 1 nm ultrathin EuO film exhibits no valence change or interface shifts. Furthermore, we conduct an advanced magnetic characterization by the magnetic circular dichroism (MCD) of Eu core-levels in photoemission, this gives us insight into the intra-atomic exchange coupling of EuO thin films. The MCD reveals large asymmetries of up to 49% in the well-resolved Eu 4d photoemission multiplet. Thus, ultrathin EuO coherently grown on conductive YSZ allows us to explore fundamental magnetic and electronic properties of a 4f magnetic oxide.
Biaxial lateral strain applied to single-crystalline EuO is of fundamental interest, since it alters the electronic structure and magnetic coupling in a controlled way. We apply +4:2% tensile biaxial strain to EuO by epitaxial EuO/LaAlO3 (100) heterostructures. EuO seamlessly adapts the lateral lattice parameter of LaAlO3, while the perpendicular parameter of EuO is the unchanged EuO bulk value, thus the strained EuO thin film shows a Poisson ratio of EuO 0. The tensile strain reduces the Curie temperature significantly by 12.3 K. The MCD effect provides an advanced magnetic characterization: theMCDasymmetries in Eu core-level photoemission reveal a larger reduction due to the tensile strain than obtained from bulk-averaging SQUID measurements. Thus, the mechanism of tensile strain on intra-atomic exchange (indicated by MCD) is significantly different than on the spin order of the 4f 7 shell (indicated by SQUID). Experiments on EuO by MCD, thereby, reveal exciting perspectives for studying fundamental magnetic properties of EuO.
In the second part of this thesis, we explore how to integrate EuO directly with Si (001). We focus on interface engineering of structural and chemical properties of the EuO/Si (001) spin-functional heterointerface. In response to the extremely high chemical reactivity and pronounced surface kinetics of Eu, EuO, and Si during EuO synthesis at elevated temperatures, we initially conduct a thermodynamic analysis of the EuO/Si interface. In this way, we decide to investigate three in situ passivation techniques for the Si (001) surface, in order to prevent metallic and oxide contaminations at the EuO/Si interface – both being main antagonists for spin-selective tunneling. We conduct a comprehensive optimization study of the EuO/Si heterointerface by tuning the passivation parameters of the Si (001) surface and the growth parameters of EuO. Using HAXPES, we evaluate Si and Eu core-level spectra and determine the minimum of interface contaminants as dopt(SiOx) = 0.69 nm concomitant with dopt(EuSi2) = 0.20 nm, both of which are clearly in the subnanometer regime.
In conclusion, our ultrathin EuO/Si (001) heterostructures reveal a high chemical quality of the spinfunctional interface, combined with magnetic properties of the EuO layer akin to bulk. By selected interface passivation methods, we achieve a reduction of residual contaminations to clearly below a closed interface coverage. Thus, we could confirm a heteroepitaxial integration of EuO on Si (001), which is the experimental basis for possible band-matched coherent tunneling. This is the first time that a direct integration of high quality EuO on silicon was experimentally realized –without insertion of additional oxide buffer layers. Such optimized EuO/Si (001) heterointerfaces are paving the pathway for near-future spin-functional devices using EuO tunnel contacts.
In dieser Doktorarbeit untersuchen wir fundamentale Eigenschaften von ultradünnen Europiumoxidfilmen (EuO). EuO ist ein Modellsystem eines lokalisierten 4f Heisenberg-Ferromagneten, in dem die ferromagnetische Kopplung – eine hohe Kristallqualität vorausgesetzt – durch biaxiale Gitterspannung verändert werden kann. Außerden ist das magnetische Oxid EuO perfekt als Tunnelkontakt mit Spinfunktionalität für die Siliziumspintronik geeignet. Jedoch verhindern die reaktiven chemischen Eigenschaften von EuO und Si bis heute eine erfolgreiche Implementierung in die siliziumbasierte Halbleitertechnologie.
Mit dem Ziel, fundamentale Eigenschaften der magnetischen und elektronischen Struktur ultradünner EuO Filme zu untersuchen, wachsen wir im ersten Teil dieser Arbeit dünne EuO Filme auf leitfähigen YSZ-Substraten mit Volumenschichtdicken bis hinunter zu einem Nanometer mittels Molekularstrahlepitaxie für Oxide (MBE). Diese EuO Filme besitzen einkristalline Qualität und magnetische Eigenschaften von Volumenkristallen. Wir überprüfen die Stöchiometrie der abgedeckten dünnen Filme mittels Photoemissionsspektroskopie im harten Röntgenstrahlenbereich (HAXPES). In Photoemissionsspektroskopie führen wir zudem eine spezielle magnetische Charakterisierung durch unter Ausnutzung des magnetischen Zirkulardichroismuseffekts (MCD) von Eu Kernschalenspektren. Dieser erlaubt Einblicke in die inneratomare Austauschkopplung von dünnen EuO Filmen. Wir erhalten signifikante MCD-Asymmetrien bis zu 49% in der Photoemission des Eu 4d-Multipletts. Dies ermöglicht uns, die komplexen magnetischen und elektronischen Eigenschaften von ultradünnen EuO Filmen, kohärent auf leitfähigem YSZ gewachsen, zu erforschen.
Eine biaxiale Gitterspannung, welche auf einkristallines EuO wirkt, ist auf fundamentaler Ebene interessant, da sie die magnetischen und elektronischen Eigenschaften kontrolliert verändert. Dafür untersuchen wir epitaktische EuO/LaAlO3 (100)-Schichtsysteme, welche eine Gitterstreckung von 4.2% auf EuO ausüben. EuO übernimmt übergangslos die laterale Gitterkonstante von LaAlO3, wobei die senkrechte Gitterkonstante konstant den Literaturwert von EuO zeigt und daher ein Poissonverhältnis von EuO 0 besitzt. Die streckende Gitterspannung verringert die Curietemperatur signifikant um 12.3 K. Der MCD-Effekt bietet eine elementspezifische magnetische Charakterisierung: Die MCDAsymmetrie der Eu-Kernschalenphotoemission zeigt eine geringere Reduzierung aufgrund der Gitterspannung als volumenintegrierende magnetische SQUID-Messungen. Daher ist der Einfluss der Gitterspannung auf den inneratomaren Austausch (MCD-Effekt) signifikant anders als auf die Spinordnung der 4f 7 Schale (SQUID-Messung). Hierdurch zeigt sich, dass der MCD von EuO bedeutende Einblicke in die fundamentalen magnetischen Eigenschaften bietet.
Im zweiten Teil dieser Doktorarbeit beantworten wir die Frage, wie EuO direkt auf Silizium integriert werden kann. Wir legen den Schwerpunkt auf die Optimierung der EuO/Si-Grenzschicht. Aufgrund der extrem hohen chemischen Reaktivität und oberflächenkinetischen Eigenschaften von Eu, EuO und Si während der EuO-Synthese führen wir zunächst eine thermodynamische Analyse durch. Dadurch gewinnen wir drei in situ Methoden zur Passivierung von Si (001)-Oberflächen. Mit diesen führen wir eine ausführliche Optimierungsstudie durch, und werten die Oberflächenpassivierung und die resultierenden Grenzschichtreaktionsprodukte mittels einer HAXPES-Analyse aus. Das Minimum der Siliziumoxide an der Grenzschicht ist dopt(SiOx) = 0.69 nm, während die Silizide zu dopt(EuSi2) = 0.20 nm optimiert wurden – beides deutlich im Subnanometerbereich.
Zusammenfassend können wir ultradünne EuO/Si (001)-Schichtsysteme mit hoher struktureller und chemischer Qualität sowie mit magnetischen Eigenschaften ähnlich eines Volumenkristalls präparieren. Die Grenzschichtkontamination ist deutlich kleiner als eine geschlossene Bedeckungsschicht. Dadurch erreichen wir eine heteroepitaktische Integration von EuO direkt auf Si (001), welche die experimentelle Basis für kohärentes Tunneln darstellt. Dies ist die erste Studie, welche die direkte Integration von hochqualitativem EuO auf Si (001) umsetzt – ohne zusätzlich aufgebrachte Pufferschichten. Diese optimierten EuO/Si Schichtstrukturen ebnen den Weg für zukünftige Spintronikelemente mit EuO-Tunnelkontakten.
Mit dem Ziel, fundamentale Eigenschaften der magnetischen und elektronischen Struktur ultradünner EuO Filme zu untersuchen, wachsen wir im ersten Teil dieser Arbeit dünne EuO Filme auf leitfähigen YSZ-Substraten mit Volumenschichtdicken bis hinunter zu einem Nanometer mittels Molekularstrahlepitaxie für Oxide (MBE). Diese EuO Filme besitzen einkristalline Qualität und magnetische Eigenschaften von Volumenkristallen. Wir überprüfen die Stöchiometrie der abgedeckten dünnen Filme mittels Photoemissionsspektroskopie im harten Röntgenstrahlenbereich (HAXPES). In Photoemissionsspektroskopie führen wir zudem eine spezielle magnetische Charakterisierung durch unter Ausnutzung des magnetischen Zirkulardichroismuseffekts (MCD) von Eu Kernschalenspektren. Dieser erlaubt Einblicke in die inneratomare Austauschkopplung von dünnen EuO Filmen. Wir erhalten signifikante MCD-Asymmetrien bis zu 49% in der Photoemission des Eu 4d-Multipletts. Dies ermöglicht uns, die komplexen magnetischen und elektronischen Eigenschaften von ultradünnen EuO Filmen, kohärent auf leitfähigem YSZ gewachsen, zu erforschen.
Eine biaxiale Gitterspannung, welche auf einkristallines EuO wirkt, ist auf fundamentaler Ebene interessant, da sie die magnetischen und elektronischen Eigenschaften kontrolliert verändert. Dafür untersuchen wir epitaktische EuO/LaAlO3 (100)-Schichtsysteme, welche eine Gitterstreckung von 4.2% auf EuO ausüben. EuO übernimmt übergangslos die laterale Gitterkonstante von LaAlO3, wobei die senkrechte Gitterkonstante konstant den Literaturwert von EuO zeigt und daher ein Poissonverhältnis von EuO 0 besitzt. Die streckende Gitterspannung verringert die Curietemperatur signifikant um 12.3 K. Der MCD-Effekt bietet eine elementspezifische magnetische Charakterisierung: Die MCDAsymmetrie der Eu-Kernschalenphotoemission zeigt eine geringere Reduzierung aufgrund der Gitterspannung als volumenintegrierende magnetische SQUID-Messungen. Daher ist der Einfluss der Gitterspannung auf den inneratomaren Austausch (MCD-Effekt) signifikant anders als auf die Spinordnung der 4f 7 Schale (SQUID-Messung). Hierdurch zeigt sich, dass der MCD von EuO bedeutende Einblicke in die fundamentalen magnetischen Eigenschaften bietet.
Im zweiten Teil dieser Doktorarbeit beantworten wir die Frage, wie EuO direkt auf Silizium integriert werden kann. Wir legen den Schwerpunkt auf die Optimierung der EuO/Si-Grenzschicht. Aufgrund der extrem hohen chemischen Reaktivität und oberflächenkinetischen Eigenschaften von Eu, EuO und Si während der EuO-Synthese führen wir zunächst eine thermodynamische Analyse durch. Dadurch gewinnen wir drei in situ Methoden zur Passivierung von Si (001)-Oberflächen. Mit diesen führen wir eine ausführliche Optimierungsstudie durch, und werten die Oberflächenpassivierung und die resultierenden Grenzschichtreaktionsprodukte mittels einer HAXPES-Analyse aus. Das Minimum der Siliziumoxide an der Grenzschicht ist dopt(SiOx) = 0.69 nm, während die Silizide zu dopt(EuSi2) = 0.20 nm optimiert wurden – beides deutlich im Subnanometerbereich.
Zusammenfassend können wir ultradünne EuO/Si (001)-Schichtsysteme mit hoher struktureller und chemischer Qualität sowie mit magnetischen Eigenschaften ähnlich eines Volumenkristalls präparieren. Die Grenzschichtkontamination ist deutlich kleiner als eine geschlossene Bedeckungsschicht. Dadurch erreichen wir eine heteroepitaktische Integration von EuO direkt auf Si (001), welche die experimentelle Basis für kohärentes Tunneln darstellt. Dies ist die erste Studie, welche die direkte Integration von hochqualitativem EuO auf Si (001) umsetzt – ohne zusätzlich aufgebrachte Pufferschichten. Diese optimierten EuO/Si Schichtstrukturen ebnen den Weg für zukünftige Spintronikelemente mit EuO-Tunnelkontakten.
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