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Dissertation angenommen durch: Gerhard-Mercator-Universität,
Fakultät für Ingenieurwissenschaften, Abteilung Elektrotechnik und
Informationstechni, 2002-11-26
BetreuerIn: Prof. Dr.-Ing. Erich Kubalek ,
Gerhard-Mercator-Universität, Fakultät für Ingenieurwissenschaften,
Abteilung Elektrotechnik und Informationstechnik
GutachterIn: Prof. Dr.-Ing. Erich Kubalek ,
Gerhard-Mercator-Universität, Fakultät für Ingenieurwissenschaften,
Abteilung Elektrotechnik und Informationstechnik GutachterIn:
Prof. Dr.-Ing. Edmund Gerhard , Gerhard-Mercator-Universität, Fakultät
für Ingenieurwissenschaften, Abteilung Elektrotechnik und
Informationstechnik
Schlüsselwörter in Deutsch: kontaktlose Stromdetektion, Rastersonden-Strom-Messtechnik, magneto-resistiver Sensor, Rasterkraftmikroskop
Schlüsselwörter in Englisch: contactless current detection, scanning current measurement technique, magneto-reistive sensor, scanning force microscop
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Abstrakt in Deutsch
Für die Funktions- und Fehleranalyse integrierter Schaltkreise (IC) ist
die zerstörungsfreie, kontaktlose Strombestimmung von größter
Bedeutung. Diese Notwendigkeit brachte verschiedene Lösungsansätze
hervor, jedoch noch keine entsprechende anwendungsfähige Messtechnik.
Ziel der Arbeit war es, eine Rastersonden-Strom-Messtechnik zu
realisieren, die eine kontaktlose Strombestimmung auf beliebigen
Messpunkten in ICs ermöglicht. Zur Stromdetektion wurden
mikrominiaturisierte, magneto-resistive (MR) Sensoren verwendet. Das
Messprinzip beruht auf der Messung der Magnetfeldverteilung oberhalb
stromführender Leiterbahnen. Basierend auf diesem Sensor wurde eine
neue Messsonde entwickelt und realisiert, die neben der
Magnetfeldmessung auch eine Topographiemessung erlaubt. Durch Anwendung
verschiedener Messtechniken konnte eine Wechselstromdetektion bis
hinunter in den µA-Bereich und bis zu Messfrequenzen im MHz-Bereich auf
einer Testleiterbahnstruktur demonstriert werden. Abschließend wurde
die Einsatzfähigkeit der neuentwickelten Rastersonden-Strom-Messtechnik
am Beispiel einer Strompfadverfolgung in einem realen IC demonstriert.
Abstrakt in Englisch
The non-destructive and contactless current detection is highly
required for the function- and failure analysis of integrated circuits
(ICs). Up to now, different measurement techniques have been proposed
and introduced. No commercial measurement technique has been available
for the application. The aim of this work was to develop a scanning
current measurement technique, that allows to detect currents on ICs
contactless. Micro-miniaturized magneto-resistive (MR) sensors were
used for the current detection. The measurement principle is detecting
and assessing the magnetic fields over the current carrying conducting
line. Based on the MR sensors, a new probe was constructed. This probe
enables parallel to the current detection, a topography measurement.
Furthermore, different measurement techniques were introduced and
successfully applied, for the AC-current detection in µA-range and in
MHz-range on the test structures. Finally, the functionality of the
scanning current measurement technique was demonstrated by the current
detection on a real IC.
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