PT Unknown
AU Metzlaff, A
TI Untersuchung der Wechselwirkung von Graphen unter keV-Argon-Ionen-Beschuss
PD 12
PY 2023
DI 10.17185/duepublico/81307
LA de
AB Gegenstand der vorliegenden Bachelor-Arbeit ist die Untersuchung der Wechselwirkungsprozesse von Graphen unter Beschuss mit Argon-Ionen im keV-Bereich hinsichtlich der Emission von Sekundärelektronen. Es werden die generelle Sekundärelektronenemission von Graphen und die Veränderung der Sekundärelektronenemission durch längeren Beschuss mit einer erhöhten Ionendosis im Laufe der Zeit betrachtet. Die hierfür relevante Messgröße ist die Elektronenausbeute γ, definiert als die mittlere Anzahl emittierter Sekundärelektronen pro einfallendem Ion. Die Untersuchungen werden im Rahmen des Sonderforschungsbereich 1242 (SFB 1242) „Nichtgleichgewichtsdynamik kondensierter Materie in der Zeitdomäne“ durchgeführt, um zu verifizieren, ob Graphen ein für die dortigen Zwecke geeignetes Probenmaterial als langlebiger Elektronenemitter ist. Diese Messungen werden mit Hilfe eines Passivated Implanted Planar Silicon-Halbleiter-Detektors (PIPS-Detektor) durchgeführt, der Events von n gleichzeitig emittierten Elektronen erfasst. Durch kontinuierliche Messung bildet sich ein Spektrum, mittels dem die Elektronenemissionsstatistik (EES) folgt. Durch Anpassung der Furry-Verteilung an diese Spektren kann die Ausbeute γ als Erwartungswert der Verteilung bestimmt werden. Dies ermöglicht eine Aussage, ob bei geringen Ionendosen genügend Elektronen emittiert werden. Diese Untersuchungen werden für verschiedenen Graphenlagen bei kinetischen Primärionenenergien im Bereich zwischen 2.5 − 12.5 keV durchgeführt. Mit Hilfe der Elektronenemissionsstatistik ist es gelungen, anhand der Ausbeute von emittierten Sekundärelektronen Graphen als geeignetes Probenmaterial für den Sonderforschungsbereich 1242 zu identifizieren.
ER