000K utf8 1500 ger 2050 urn:nbn:de:hbz:464-duett-06012001-0954256 3000 4000 FT-Ellipsometrie an anodischen Oxidschichten auf Aluminium 4000 FT-Ellipsometry of anodic oxide layers on Aluminium 4209 In der vorliegenden Dissertation werden anodische Oxidschichten auf Aluminium mit Hilfe der FT-IR-Spektrometrie charakterisiert. Hierbei werden die Methoden der gerichteten Reflexion und der FT-IR-Ellipsometrie eingesetzt. Der Schwerpunkt der Untersuchungen liegt auf der physikalisch-chemischen Charakterisierung der anodischen Schichten. Es wird ein optisches Modell entwickelt auf dessen Basis die optischen Konstanten, der Brechungsindex n und der Absorptionskoeffizient k, der anodischen Schichten ermittelt werden. In the present thesis anodic layers on Aluminium are characterised by FT-IR-Spectrometry. FT-IR-Ellipsometry and specular reflection and are used. The main emphasis is put on the physical-chemical characterisation of the anodic layers. An optical model is developed. On the basis of this model the optical constants, the refractive index n and the absorption coefficient k, are determined. 4950 https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:hbz:464-duett-06012001-0954256$xR$3Volltext$534 4961 https://duepublico2.uni-due.de/receive/duepublico_mods_00005062 5010 54 5051 540 5550 absorption coefficient 5550 Aluminium 5550 anodic layers 5550 Anodische Oxidschichten 5550 FT-IR-Ellipsometrie 5550 FT-IR-Spektrometrie 5550 gerichtete Reflexion 5550 optical constants 5550 optische Konstanten 5550 refractive index 5550 specular reflection